Printer Friendly

Caracterizacion de materiales a traves de medidas de microscopia electronica de barrido (SEM).

1. Introduccion

La microscopia electronica de barrido SEM (de sus iniciales en el idioma ingles Scanning Electron Microscopy) es una tecnica de analisis topografico, estructural y composicional, la cual se ha usado extensamente en el estudio de topicos tales como semiconductores [1]-[8], nanoparticulas [9], modificacion de productos comerciales [10], catalisis hetereogenea [11]-[13], dispositivos de juntura p-n [14], peliculas delgadas [15], fisica de nanocomposiciones [16], fotoelectroquimica [17], dadas sus posibilidades de resolucion, magnificacion y versatilidad de variantes que permite que sea aplicada a diversidad de muestras, ambientes y necesidades experimentales (procesos termicos, corrosivos, etc.).

En terminos generales, un equipo de SEM es capaz de tomar una "imagen" de la muestra aunque realmente lo que se detecta es la respuesta del material al impacto de un haz de electrones (electrones llamados primarios), en vez de registrar fotones propiamente dichos (como en la microscopia optica). Al ser impactada por el haz de electrones de alta energia, la muestra produce una serie de senales que son registradas en los diferentes detectores del equipo, en donde cada una de dichas senales ofrece independientemente informacion acerca de la topografia, composicion y hasta conductividad electrica de la muestra. Por supuesto, para adquirir la "imagen" se hace mover el haz en el plano xy (con sistemas opticos, antes de impactar la muestra) de forma que recorra el area deseada o planificada. La resolucion que puede alcanzarse; es decir, la capacidad de distinguir en la imagen entre dos puntos diferentes pero proximos entre si, en la superficie del material, puede ser tan alta como 2 nm [18].

En terminos de lo que se puede estudiar con SEM, se puede afirmar que los resultados de una analisis por SEM se resumen en informacion topografica, morfologica, de composicion quimica, de cristalografia (estructura y orientacion de grano) y de dinamica de reacciones (experimentos in situ).

2. SEM: Instrumental y teoria

2.1. Instrumental: ?Como funciona un SEM?

La idea basica de funcionamiento de un equipo de SEM es la siguiente: se genera un haz de electrones de alta energia (o electrones incidentes EI) y se usa un sistema de lentes para focalizar el haz y hacerlo incidir sobre una muestra, la cual generara, a su vez, electrones (llamados secundarios y retrodispersados con siglas SE y BSE, respectivamente) como respuesta al impacto electronico, y dichos electrones que salen de la muestra son detectados mediante dispositivos EverhartThornley y SED (Solid State Detector) que registran cada uno la cantidad de electrones detectados y lo convierten en una senal digital que se interpreta como intensidad de color, para construir una "imagen" aunque no se usen fotones. Si, ademas de lo anterior, se tiene todo el equipo trabajando en una atmosfera interna practicamente inexistente (alto vacio), y se reemplaza el detector de los SE convencional (Everhart-Thornley) por uno que genera un campo electrico para llevar los SE hacia el cuerpo del detector, entonces se puede hacer ESEM (environmental SEM) o SEM ambiental, el cual es una tecnica muy usada en la actualidad para poder tomar imagenes de muestras "dificiles" de tratar: a) muestras aislantes, b) sensibles al vacio o radiacion, c) muestras en estado liquido, ademas de dar la posibilidad de estudiar procesos in situ tales como corrosion, estres mecanico o hidratacion/deshidratacion. La Figura 1 presenta un esquema del equipo, y la Figura 2 ejemplifica como se genera la "imagen" (en adelante, se usara el termino imagen sin comillas, dando por explicado que aunque no proviene de una senal de intensidad o flujo de fotones, el resultado final es una interpretacion en escala de colores del flujo de electrones SE o BSE detectados).

[FIGURA 1 OMITIR]

Los dispositivos para generar el haz de electrones son generalmente de dos tipos: Emisores termoionicos o los canones de emision de campo (FEG, Field Emission Gun) [19]. Los termoionicos generan electrones de alta velocidad (y, por ende, alta energia) cuando se calienta un filamento metalico (generalmente tungsteno) o de un compuesto como LaB6 si el sistema esta en alto vacio. Un tipo mas reciente de emisores de electrones los FEG, funcionan cuando una punta cristalina de tungsteno recubierta de oxido de Zirconio se somete a un gran campo electrico (del orden de los kV/cm. Todos ellos requieren un ambiente de alto vacio (del orden de [10.sup.-6] torr) para minimizar la corrosion del emisor, que esta a alta temperatura, ya que puede reaccionar con las moleculas del aire.

[FIGURA 2 OMITIR]

2.2. Teoria: Interaccion electrones-materia

Cuando el haz de electrones impacta la muestra, se generan dos tipos de senales: los electrones Secundarios (SE) y los electrones retrodispersados (BSE). Cada una de esas senales brinda informacion diferente acerca de la muestra, dado que se generan a partir de procesos diferentes. Como se ilustra en la figura 3, los electrones SE se generan por la colision de los EI con los atomos superficiales de la muestra (los primeros cristales); son electrones de baja energia (~ 10-50 eV), y como provienen de la superficie pueden escapar con informacion de la morfologia de la muestra (informacion topografica). Los SE son mayores en numero que los EI, por lo cual se puede saber que no son simplemente electrones EI reflejados que no interactuan con la muestra. Ahora bien, puede haber electrones SE1 y SE2 ya que algunos electrones EI pueden viajar al interior de la muestra y colisionar con atomos que no necesariamente esten en la superficie sino unas capas atomicas debajo, probablemente (electrones SE2).

Por su lado, los electrones BSE son electrones que alcanzan a viajar mucho mas al interior de la muestra y, aunque no choquen con ningun atomo, traen informacion acerca de la muestra debido a que son perturbados en su viaje por los campos magneticos de los nucleos atomicos de la muestra y pueden ser desviados con angulos mayores de 180o, de forma que puedan escapar de la superficie (Figura 3).

2.3. Acerca de la formacion de la imagen: Resolucion y magnificacion

Como se afirmo anteriormente, la imagen se forma de manera digital. Un PC con el software adecuado interpreta la cantidad de electrones detectados (ya sean SE o BSE) y a cada zona le asigna una intensidad de color en la escala de grises de acuerdo a una convencion general: Las zonas de donde se detecten mayor numero de electrones se representaran con un color mas blanco. Por ello, las imagenes construidas tienen la apariencia de una fotografia en escala de grises, aunque algunas veces se anade un color en escala de saturacion creciente para resaltar ciertos aspectos morfologicos o para resaltar cambios en la superficie de la muestra.

[FIGURA 3 OMITIR]

Resolucion y magnificacion. Los terminos conocidos como resolucion y magnificacion suelen tomarse como sinonimos aunque presentan diferencias. Al hablar de la resolucion de una imagen de SEM se tiene en cuenta la capacidad conjunta del sistema haz de electrones - sistema optico - detectores - software de adquisicion e interpretacion para brindar una distincion clara entre dos puntos cercanos dentro del area de muestra en la cual se esta tomando el barrido. Generalmente, a menor diametro del haz de electrones incidentes EI, mayor sera la resolucion; ya que se barrera un area muy pequena (~ [nm.sup.2]) con respecto a toda el area a la cual se le hace incidir el haz.

La magnificacion, por su parte, esta relacionada al tiempo con el area de muestra que se barre con el haz de electrones EI y con el area de visualizacion que se construya en el software de interpretacion. Principalmente se puede variar la magnificacion desde 10 y hasta 500.000 veces el tamano real de un area de muestra, dependiendo de los dos parametros antes mencionados. Asi, la mayor magnificacion se lograra barriendo un area muy pequena e interpretando la senal para construir una imagen de grandes dimensiones (pantalla o visualizacion grande, de 1920x1080 pixel, por ejemplo.)

3. SEM: Caracterizacion de materiales

Dada la alta resolucion que se puede lograr en SEM, es posible conocer las caracteristicas mas detalladas de un material: su estructura cristalina, porosidad, morfologia superficial y hasta su composicion quimica. Es de aclarar que las imagenes de electrones SE tienen mucha mejor resolucion que las generadas con electrones BSE, debido a el numero de electrones detectados, que es mucho mayor en los SE, y a efectos de superficie y penetracion de los electrones incidentes o EI. Algunos ejemplos de imagenes de SEM se presentan en la Figuras 4 a 8. Se puede apreciar en las distintas figuras que la morfologia y la estructura cristalina de cada muestra analizada es particularmente distinguible, siendo estructuras muy variadas en formas y disposiciones; la principal caracteristica morfologica de todas las muestras (todas ellas de materiales semiconductores) es su altisima area superficial, la cual es un parametro muy importante; ya que la mayoria de procesos de transporte tanto electrico como de catalisis asistida por luz estan muy fuertemente influenciados por la superficie de material.

Notese como, especialmente en el caso del Ti[O.sub.2], los semiconductores presentan formas muy repetitivas y armonicas, algunas de ellas hasta espectaculares, lo cual es una evidencia directa del caracter cristalino de su crecimiento (es decir, que crecen formando millones de cristales con la misma estructura y morfologia). Cuando no se obtiene mediante un proceso de sintesis de materiales la forma casi esferica que presenta el Ti[O.sub.2] de la Figuras 4 a 8, se puede perder area superficial ya que la forma esferica es la que mejor relacion area/volumen presenta.

[FIGURA 4 OMITIR]

Por otro lado, y como se ilustra tambien en la figura 9, la composicion quimica se puede diferenciar segun los diferentes patrones de contraste que cada zona, segun los atomos que la conforman, origina. Frecuentemente, las imagenes obtenidas se relacionan con los resultados de otras tecnicas y se contrastan contra modelos estructurales [20]-[35] para estudiar a una mayor profundidad un material; con ello el SEM ha logrado incursionar en campos de la ciencia tan amplios como los estudios de topografia [36], recubrimientos microestructurados [37], paleobotanica [38], reconstruccion de imagenes en 3D [39], nanoelectricidad [40], fotoluminiscencia y emision de campo [41], sintesis solvotermica [42], sensores de gases [43], nanobarras (nanorods) [44], nanoalambres (nanowires) [45], fotocatalisis [46]-[48], semiconductores compuestos [49], computacion por software de imagen [50], geomateriales [51], nanoesferas (nanospheres) [52], nanoestructuras [53]-[55], sensores de glucosa [56], compuestos antibacterianos [57], electroquimica de la corrosion [58], sintesis quimica por Spray Pyrolysis y por evaporacion termica [59,60]; peliculas delgadas dopadas [61].

[FIGURA 5 OMITIR]

[FIGURA 6 OMITIR]

[FIGURA 7 OMITIR]

[FIGURA 8 OMITIR]

4. Conclusiones

En este documento se presentaron, de manera basica, los fundamentos de la tecnica de analisis morfologico, estructural y quimica llamada Microscopia de barrido electronico o SEM. Se explico el funcionamiento y las diferentes senales que una muestra origina, asi como la informacion que cada una de ellas conlleva. Se aclaran aspectos experimentales como la resolucion y la magnificacion y, finalmente, se presentan ejemplos claros de los resultados de la tecnica en terminos de morfologia, estudios de nanoestructuras y analisis quimico elemental.

[FIGURA 9 OMITIR]

Agradecimientos: El autor desea agradecer a Dios, en primera medida, por su amor, apoyo y presencia. A la Fundacion Universidad de America por facilitar el escenario propicio para la realizacion del primer Seminario de Fotocatalisis. Al director del grupo de Fotocatalisis de la Universidad de America, Dr. Sc. Cesar Quinones, por su apoyo y sus valiosas sugerencias para la realizacion de este documento.

Referencias

[1.] Mahajan L.H., Mhaske S.T.: Composite microspheres of poly(o-anisidine)/Ti[O.sub.2], Materials Letters 68 183-186. (2012)

[2.] Murcia-Lopez S. et al.: Photocatalytic activity of single and mixed nanosheetlike Bi2WO6 and Ti[O.sub.2] for Rhodamine B degradation under sunlike and visible illumination, Applied Catalysis A: General 423-424 34-41 (2012)

[3.] Xiuwen Cheng et al.: Enhanced Photocatalytic Activity of Nitrogen Doped Ti[O.sub.2] Anatase Nano-Particle under Simulated Sunlight Irradiation, Energy Procedia 16 598-605 (2012)

[4.] Sangchay W. et al.: Comparison of photocatalytic reaction of commercial P25 and synthetic Ti[O.sub.2]-AgCl nanoparticles, Procedia Engineering 32 590-596 (2012)

[5.] Henderson M.A.: A surface science perspective on Ti[O.sub.2] photocatalysis, Surface Science Reports 66 185-297 (2011)

[6.] Penghua Wang et al.: Carbon-sensitized and nitrogen-doped Ti[O.sub.2] for photocatalytic degradation of sulfanilamide under visible-light irradiation, Water Research 45 5015-5026 (2011)

[7.] Wu F. et al.: Membrane vis-LED photoreactor for simultaneous penicillin G degradation and Ti[O.sub.2] separation, Powder Technology 213 192-198 (2011)

[8.] Faure M. et al.: Study of photocatalytic damages induced on E. coli by different photocatalytic supports (various types and Ti[O.sub.2] configurations), Journal of Photochemistry and Photobiology A: Chemistry 222 323-329 (2011)

[9.] Ubonchonlakate K., Sikong L., Saito F.: Photocatalytic disinfection of P.aeruginosa bacterial Ag-doped Ti[O.sub.2] film, Procedia Engineering, Volumen 32, Paginas 656-662 (2012)

[10.] Chengbao Liu, Zhigang Chen, Zhi Miao, Feng Chen, Cheng Gu, Minqi Huang, Xiaobing Zhao,: Properties and preparation of porous carbon material supported with modified Ti[O.sub.2], Procedia Engineering, Volumen 27, Paginas 557-563 (2012)

[11.] Magdalena Palacio, Paula I. Villabrille, Gustavo P. Romanelli, Patricia G. Vazquez, Carmen V. Caceres, Preparation, characterization and use of V2O5-Ti[O.sub.2] mixed xerogels as catalysts for sustainable oxidation with hydrogen peroxide of 2,3,6-trimethylphenol, Applied Catalysis A: General, Volumenes 417-418, 29 de Febrero de 2012, Paginas 273-280 (2012)

[12.] K.V. Narayana, A. Venugopal, K.S. Rama Rao, S. Khaja Masthan, V. Venkat Rao, P. Kanta Rao.: Ammoxidation of 3-picoline over V2O5/Ti[O.sub.2] (anatase) system. II. Characterisation of the catalysts by DTA, SEM, FTIR, ESR and oxygen and ammonia chemisorption, Applied Catalysis A: General, Volumen 167, Numero 1, 5 de Febrero de 1998, Paginas 11-22 (1998)

[13.] Won-Chun Oh, Feng-Jun Zhang, Ming-Liang Chen, Synthesis and characterization of V-[C.sub.60]/Ti[O.sub.2] photocatalysts designed for degradation of methylene blue, Journal of Industrial and Engineering Chemistry, Volumen 16, Numero 2, 25 de Marzo de 2010, Paginas 299-304 (2010)

[14.] Shifu Chen, Wei Zhao, Wei Liu, Sujuan Zhang.: Preparation, characterization and activity evaluation of p-n junction photocatalyst p-ZnO/n-Ti[O.sub.2], Applied Surface Science, Volumen 255, Numero 5, Parte 1, 30 de Diciembre de 2008, Paginas 2478-2484 (2008)

[15.] S.C. Lee, Huogen Yu, Jiaguo Yu, C.H. Ao.: Fabrication, characterization and photocatalytic activity of preferentially oriented Ti[O.sub.2] films, Journal of Crystal Growth, Volumen 295, Numero 1, 15 de Septiembre de 2006, Paginas 60-68 (2006)

[16.] Jiabin Zhou, Ya Cheng, Jiaguo Yu.: Preparation and characterization of visiblelight-driven plasmonic photocatalyst Ag/AgCl/Ti[O.sub.2] nanocomposite thin films, Journal of Photochemistry and Photobiology A: Chemistry, Volumen 223, Numeros 2-3, 25 de Septiembre de 2011, Paginas 82-87. (2011)

[17.] Remigijus Juakanas, Darius Avianis, Putinas Kalinauskas, Algirdas Selskis, Raimondas Giraitis, Vidas Pakatas, Violeta Karpaviaiena, Stasa Kanapeckaita, Zenius Mockus, Rokas Kondrotas.: XRD, SEM and photoelectrochemical characterization of ZnSe electrodeposited on Cu and Cu-Sn substrates, Electrochimica Acta, Volumen 70, 30 de Mayo de 2012, Paginas 118-123 (2012)

[18.] Vila A., Comerma A., Trenado J., Arbat A., Gascon D., Garrido L., Diaguez A.: SEM/FIB for characterization of nanosized imagers, Procedia Engineering, Volumen 5, Paginas 697-700. (2010)

[19.] Perovic D.D., Castell M.R., Howie A., Lavoie C., Tiedje T., Cole J.S.W.: Fieldemission SEM imaging of compositional and doping layer semiconductor superlattices, Ultramicroscopy, Volumen 58, Numero 1, Paginas 104-113 (1995)

[20.] Edward T. Yu.: Nanoscale characterization of semiconductor materials and devices using scanning probe techniques, Materials Science and Engineering: R: Reports, Volumen 17, Numeros 4-5, 15 de Noviembre de 1996, Paginas 147-206 (1996)

[21.] Edwards N.V., Bremser M.D., Batchelor A.D., Buyanova I.A., Madsen L.D., Yoo S.D., Wethkamp T., Wilmers K., Cobet C., Esser N., Davis R.F., Aspnes D.E., Monemar B.: Optical characterization of wide bandgap semiconductors, Thin Solid Films, Volumen 364, Numeros 1-2, 27 de Marzo de 2000, Paginas 98-106 (2000)

[22.] Mane R.S, Lokhande C.D.: HRTEM, SEM and XRD characterization of nanocrystalline [Sb.sub.2][S.sub.3] thin films deposited by chemical bath route, Surface and Coatings Technology, Volumen 172, Numero 1, 15 de Julio de 2003, Paginas 51-56 (2003)

[23.] Anala L. Soldati, Laura Baquio, Horacio Troiani, Carlos Cotaro, Anja Schreiber, Alberto Caneiro, Adriana Serquis.: High resolution FIB-TEM and FIB-SEM characterization of electrode/electrolyte interfaces in solid oxide fuel cells materials, International Journal of Hydrogen Energy, Volumen 36, Numero 15, Julio de 2011, Paginas 9180-9188 (2011)

[24.] Zahava Barkay, Ilia Rivkin, Rimona Margalit.: Three-dimensional characterization of drug-encapsulating particles using STEM detector in FEG-SEM, Micron, Volumen 40, Numero 4, Junio de 2009, Paginas 480-485 (2009)

[25.] Nakabayashi D., Silva P.C., Ugarte D.: Inexpensive two-tip nanomanipulator for a SEM, Applied Surface Science, Volumen 254, Numero 1, 31 de Octubre 2007, Paginas 405-411 (2007)

[26.] Robert Krueger.: Dual-column (FIB-SEM) wafer applications, Micron, Volumen 30, Numero 3, Junio de 1999, Paginas 221-226 (1999)

[27.] Matois J.J., Le Lay G.: Complementary data obtained on the metal-semiconductor interface by LEED, AES and SEM: Pb/Ge(111), Surface Science, Volumen 133, Numeros 2-3, 2 de Octubre de 1983, Paginas 422-442 (1983)

[28.] Baykul M.C, Balcioglu A.: AFM and SEM studies of CdS thin films produced by an ultrasonic spray pyrolysis method, Microelectronic Engineering, Volumenes 51-52, Mayo de 2000, Paginas 703-713 (2000)

[29.] Hirata T., Akane T., Jinno S., Kuno T., Yang Y., Fujiwara Y., Nakamura A., Takeda Y.: SEM observation of InP/ErP/InP double heterostructures grown on InP(001), InP(111)A, and InP(111)B, Materials Science in Semiconductor Processing, Volumen 6, Numeros 5-6, Octubre-Diciembre de 2003, Paginas 473-476 (2000)

[30.] Petersen C., Lasagni A., Holzapfel C., Daniel C., Macklich F., Veith M.: SEM/TEM characterization of periodical novel amorphous/nano-crystalline micro-composites obtained by laser interference structuring: The system HAlO-Al-[Al.sub.2][O.sub.3], Applied Surface Science, Volumen 253, Numero 19, 31 de Julio de 2007, Paginas 8022-8027 (2007)

[31.] David A. Stanley, Hossein Alizadeh, Amr Helmy, Nazir P. Kherani, Li Qian, Stefan Zukotynski.: SEM-mapped micro-photoluminescence studies of highly luminescent micro-clusters in erbium-doped silicon-rich silicon oxide, Journal of Luminescence, Volumen 131, Numero 1, Enero de 2011, Paginas 72-77 (2011)

[32.] Iacob E., Bersani M., Lui A., Giubertoni D., Barozzi M., Anderle M.: Topography induced by sputtering in a magnetic sector instrument: an AFM and SEM study, Applied Surface Science, Volumen 238, Numeros 1-4, 15 de Noviembre de 2004, Paginas 24-28 (2011)

[33.] Robert-Goumet C., Monier G., Zefack B., Chelda S., Bideux L., Gruzza B., Awitor O.K.: SEM and XPS studies of nanohole arrays on InP(1 0 0) surfaces created by coupling AAO templates and low energy [Ar.sup.+] ion sputtering, Surface Science, Volumen 603, Numero 19, 1 de Octubre de 2009, Paginas 2923-2927 (2009)

[34.] Hui Luo, L.E. Scriven, Lorraine F. Francis.: Cryo-SEM studies of latex/ceramic nanoparticle coating microstructure development, Journal of Colloid and Interface Science, Volumen 316, Numero 2, 15 de Diciembre de 2007, Paginas 500-509 (2007)

[35.] Olivier Guise, Carl Strom, Nisha Preschilla.: STEM-in-SEM method for morphology analysis of polymer systems, Polymer, Volumen 52, Numero 5, 1 de Marzo de 2011, Paginas 1278-1285 (2011)

[36.] Iacob E., Bersani M., Lui A., Giubertoni D., Barozzi M., Anderle M.: Topography induced by sputtering in a magnetic sector instrument: an AFM and SEM study, Applied Surface Science, Volumen 238, Numeros 1-4, 15 de Noviembre de 2004, Paginas 24-28, ISSN 0169-4332 (2004)

[37.] Hui Luo, L.E. Scriven, Lorraine F. Francis.: Cryo-SEM studies of latex/ceramic nanoparticle coating microstructure development, Journal of Colloid and Interface Science, Volumen 316, Numero 2, 15 De Diciembre de 2007, Paginas 500-509 (2007)

[38.] Imogen Poole, Geoffrey E. Lloyd.: Alternative SEM techniques for observing pyritised fossil material, Review of Palaeobotany and Palynology, Volumen 112, Numero 4, De Noviembre de 2000, Paginas 287-295 (2000)

[39.] Franziska Schmidt, Markus KAijhbacher, Ulrich Gross, Antonius Kyriakopoulos, Helmut Schubert, Rolf Zehbe.: From 2D slices to 3D Volumens: Image based reconstruction and morphological characterization of hippocampal cells on charged and uncharged surfaces using FIB/SEM serial sectioning, Ultramicroscopy, Volumen 111, Numero 4, De Marzo de 2011, Paginas 259-266 (2011)

[40.] Muhamamd Naeem Ashiq, Muhammad Fahad Ehsan, Muhammad Javed Iqbal, Iftikhar Hussain Gul.: Synthesis, structural and electrical characterization of Sb+ substituted spinel nickel ferrite (NiSbxFe2-xO4) nanoparticles by reverse micelle technique, Journal of Alloys and Compounds, Volumen 509, Numero 16, 21 De Abril de 2011, Paginas 5119-5126 (2011)

[41.] Ghulam Nabi, Chuanbao Cao, Waheed S. Khan, Sajad Hussain, Zahid Usman, Tariq Mahmood, Noor Abass Din Khattak, Suling Zhao, Xu Xin, Dapeng Yu, Xuewen Fu.: Synthesis, characterization, photoluminescence and field emission properties of novel durian-like gallium nitride microstructures, Materials Chemistry and Physics, Volumen 133, Numeros 2-3, 16 De Abril de 2012, Paginas 793-798 (2012)

[42.] Juan Yang, Guoxiu Wang, Hao Liu, Jinsoo Park, Xiaonong Cheng.: Controlled synthesis and characterization of ZnSe nanostructures via a solvothermal approach in a mixed solution, Materials Chemistry and Physics, Volumen 115, Numero 1, 15 May 2009, Paginas 204-208 (2009)

[43.] Balamurugan C., Vijayakumar E., Subramania A.: Synthesis and characterization of InNb[O.sub.4] nanopowder for gas sensors, Talanta, Volumen 88, 15 De Enero de 2012, Paginas 115-120 (2012)

[44.] Maleki M., Mirdamadi Sh., Ghasemzadeh R., Sasani Ghamsari M.: Preparation and characterization of cadmium sulfide nanorods by novel solvothermal method, Materials Letters, Volumen 62, Numeros 12-13, 30 De Abril de 2008, Paginas 1993-1995 (2008)

[45.] Emanuela Filippo, Gioacchino Micocci, Antonio Tepore, Tiziana Siciliano.: Fabrication of [alpha]-Te[O.sub.2] smooth and beaded microwires by thermal evaporation method, Journal of Crystal Growth, Volumen 336, Numero 1, 1 De Diciembre de 2011, Paginas 101-105 (2011)

[46.] Won-Chun Oh, Feng-Jun Zhang, Ming-Liang Chen.: Synthesis and characterization of V-[C.sub.60]/Ti[O.sub.2] photocatalysts designed for degradation of methylene blue, Journal of Industrial and Engineering Chemistry, Volumen 16, Numero 2, 25 De Marzo de 2010, Paginas 299-304 (2010)

[47.] Chen Shifu, Yang Yunguang, Liu Wei.: Preparation, characterization and activity evaluation of TiN/F-Ti[O.sub.2] photocatalyst, Journal of Hazardous Materials, Volumen 186, Numeros 2-3, 28 De Febrero de 2011, Paginas 1560-1567 (2011)

[48.] Haitao Zhang, Shuxin Ouyang, Zhaosheng Li, Lifei Liu, Tao Yu, Jinhua Ye, Zhigang Zou.: Preparation, characterization and photocatalytic activity of polycrystalline [Bi.sub.2][O.sub.3]/SrTi[O.sub.3] composite powders, Journal of Physics and Chemistry of Solids, Volumen 67, Numero 12, De Diciembre de 2006, Paginas 2501-2505 (2006)

[49.] Heera T.R., Cindrella L.: PbS/CoS-Pani composite semiconductor films, Materials Science in Semiconductor Processing, Volumen 14, Numero 2, De Junio de 2011 (2011)

[50.] Koji Nakamae, Masaki Chikahisa, Hiromu Fujioka.: Estimation of electron probe profile from SEM image through wavelet multiresolution analysis for inline SEM inspection, Image and Vision Computing, Volumen 25, Numero 7, 1 De Julio de 2007, Paginas 1117-1123 (2007)

[51.] Richard Wirth.: Focused Ion Beam (FIB) combined with SEM and TEM: Advanced analytical tools for studies of chemical composition, microstructure and crystal structure in geomaterials on a nanometre scale, Chemical Geology, Volumen 261, Numeros 3-4, 30 De Abril de 2009, Paginas 217-229 (2009)

[52.] Qingyao Wang, Shengsong Ge, Qian Shao, Yuhua Zhao.: Self-assembly of [Sb.sub.2][O.sub.3] nanowires into microspheres: Synthesis and characterization, Physica B: Condensed Matter, Volumen 406, Numero 4, 15 De Febrero de 2011, Paginas 731-736 (2011)

[53.] Juan Lu, Qiaofeng Han, Xujie Yang, Lude Lu, Xin Wang: Microwave-assisted synthesis and characterization of 3D flower-like [Bi.sub.2][S.sub.3] superstructures, Materials Letters, Volumen 61, Numeros 14-15, De Junio de 2007 (2007)

[54.] Amir Abbas Rafati, Ahmad Reza Afraz Borujeni, Mojgan Najafi, Ahmad Bagheri.: Ultrasonic/surfactant assisted of CdS nano hollow sphere synthesis and characterization, Materials Characterization, Volumen 62, Numero 1, De Enero de 2011, Paginas 94-98 (2011)

[55.] Mousavi S.H., Haratizadeh H., Kitai A.H.: Formation and characterization of zinc oxide nanowires grown on hexagonal-prism microstructures, Materials Letters, Volumen 65, Numeros 15-16, De Agosto de 2011, Paginas 2470-2472 (2011)

[56.] Shou-Nian Ding, Dan Shan, Huai-Guo Xue, Serge Cosnier.: A promising biosensingplatform based on bismuth oxide polycrystalline-modified electrode: Characterization and its application in development of amperometric glucose sensor, Bioelectrochemistry, Volumen 79, Numero 2, De Octubre de 2010, Paginas 218-222 (2010)

[57.] Nasrin Talebian, Mohammad Reza Nilforoushan, Elahe Badri Zargar.: Enhanced antibacterial performance of hybrid semiconductor nanomaterials: ZnO/SnO2 nanocomposite thin films, Applied Surface Science, Volumen 258, Numero 1, 15 De Octubre de 2011, Paginas 547-555 (2011)

[58.] Fabio Bolzoni, Patrizia Fassina, Gabriele Fumagalli, Sara Goidanich.: Electrochemical characterization of corrosion resistant alloys in chloride solutions, In: Philippe Marcus and Vincent Maurice, Editor(s), Passivation of Metals and Semiconductors, and Properties of Thin Oxide Layers, Elsevier Science, Amsterdam, 2006, Paginas 573-578 (2006)

[59.] Ankit Goyal, Kachhwaha S.: ZnO thin films preparation by spray pyrolysis and electrical characterization, Materials Letters, Volumen 68, 1 De Febrero de 2012, Paginas 354-356 (2012)

[60.] Libing Feng, Aihua Liu, Mei Liu, Yuying Ma, Jing Wei, Baoyuan Man.: Synthesis, characterization and optical properties of flower-like ZnO nanorods by non-catalytic thermal evaporation, Journal of Alloys and Compounds, Volumen 492, Numeros 1-2, 4 De Marzo de 2010, Paginas 427-432 (2010)

[61.] Yongjuan Lu, Gewen Yi, Junhong Jia, Yongmin Liang.: Preparation and characterization of patterned copper sulfide thin films on n-type Ti[O.sub.2] film surfaces, Applied Surface Science, Volumen 256, Numero 23, 15 De Septiembre de 2010, Paginas 7316-7322 (2010)

FECHA DE ENTREGA: 2 DE OCTUBRE DE 2012

FECHA DE APROBACION: 7 DE MARZO DE 2013

Josue Clavijo *

Universidad de America. Bogota-Colombia

* Profesor investigador de la Universidad de America. Grupo de investigacion: Grupo de Materiales Fotoactivos. josue.clavijo@gmail.com
COPYRIGHT 2013 Politecnico Grancolombiano
No portion of this article can be reproduced without the express written permission from the copyright holder.
Copyright 2013 Gale, Cengage Learning. All rights reserved.

Article Details
Printer friendly Cite/link Email Feedback
Author:Clavijo, Josue
Publication:Elementos
Date:Jun 1, 2013
Words:4564
Previous Article:Sintesis de peliculas delgadas de ZnS por CBD para uso como capa buffer en celdas solares basadas en [Cu.sub.2]SnZn[S.sub.4].
Next Article:Sobre las reacciones de eliminacion de compuestos contaminantes de aguas por fotocatalisis con Ti[O.sub.2]/UV: caso azul de metileno.
Topics:

Terms of use | Privacy policy | Copyright © 2019 Farlex, Inc. | Feedback | For webmasters